N8130系列超高采樣率超級電容容量內(nèi)阻測試儀

       ■  電壓范圍：0-6V

       ■  恒流充電、恒流放電、恒壓充電、循環(huán)壽命、充電容量，放電容量、DCIR(直流等效內(nèi)阻)等參數(shù)測試

       ■  采樣&通訊傳輸間隔高達(dá)1ms，完全真實還原測試過程數(shù)據(jù)

       ■  充轉(zhuǎn)放過程無縫切換，無過充過放

       ■  功能豐富的上位軟件，支持生產(chǎn)分選功能

       ■  每通道對應(yīng)狀態(tài)指示燈，分選更方便

       ■  強大的數(shù)據(jù)存儲與分析功能 

       ■  百兆以太網(wǎng)通訊

       ■  兼容A/h、W/h、F等多種容量測試方法

容量測量 

       N8130可測量超級電容容量參數(shù)，含充電容量和放電容量。測試方法為：對被測超級電容以恒定電流進(jìn)行充（放）電，在充（放）電過程中記錄時間和電壓參數(shù)，通過計算充（放）電過程中電壓對時間的斜率計算容量。用戶可根據(jù)IEC等各種測量標(biāo)準(zhǔn)自行選擇電壓、時間參數(shù)進(jìn)行計算。

       充電容量計算公式：

       放電容量計算公式：

       其中：Ur表示額定電壓/U1表示充電容量計算起始電壓 /U2表示充電容量計算截止電壓U3表示放電容量計算起始電壓 / U4表示放電容量計算截止電壓I1表示充電電流 / I2表示放電電流

直流內(nèi)阻(DCIR)測試 
      N8130具有豐富的直流內(nèi)阻測量功能，支持業(yè)內(nèi)多種主流DCIR測試方法：多脈沖法、單脈沖法、充轉(zhuǎn)放法、六步測試法、IEC測試法，可滿足絕大部分用戶測試需求。NGI核心測試技術(shù)確保在各種測試方法中獲取高精度內(nèi)阻測量結(jié)果。 QC/T 741法直流等效內(nèi)阻計算公式： 

      N8130可通過重復(fù)充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應(yīng)用環(huán)境下的預(yù)計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標(biāo)。壽命測試結(jié)果可用于指導(dǎo)材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。 

      超級電容測試過程中需要輸出較大電流，測試線將會引入較大電壓降（線損），影響測量精度。N8130全系列型號均采用四線制接線方式，直接采集超級電容兩端電壓而避免因測試線線損帶來的電壓誤差，從而確保測量精度。

      考慮到不同規(guī)模的測試應(yīng)用場景，NGI提供兩種測試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測試夾（治）具均為四線制接法。